一种用于自动测量的X荧光测量托盘
发布时间: 2025-09-25
一审一校: 刘勇
二审二校: 周小川
三审三校: 乔之勇
名称 |
一种用于自动测量的X荧光测量托盘 |
领域 |
电子信息 |
类型 |
实用新型专利 |
专利号 |
ZL 2024214439297 |
发明人 |
陈利,陈伟,罗娜,王志成,魏广,陈庭娟,宋海明,陈一慧,岳威,胡冬梅,谢杨旭,邓宏杰,彭鑫升 |
专利权人 |
成都市技师学院 (成都工贸职业技术学院、成都市高级技工学校、成都铁路工程学校) |
简介 |
|
- 上一条: 一种软件开发服务器存放装置
- 下一条: 没有了